四川纳卡检测服务有限公司 收藏

1. 检测目的

（1）产品质量控制

• 确保尺寸符合设计要求：在电子产品的生产过程中，各个零部件的尺寸必须严格符合设计规格，以***产品的装配精度和性能。例如，手机屏幕的尺寸精度直接影响其与手机外壳的装配，如果尺寸偏差过大，可能导致屏幕安装不牢固、出现缝隙或无法正常显示等问题。通过***测量尺寸，可以筛选出不符合要求的零部件，确保产品质量。

• 质量稳定性监测：尺寸的稳定性能够反映生产过程的稳定性。如果同一批次产品的尺寸波动较大，可能表明生产设备（如模具、加工机床等）出现磨损或加工工艺参数（如切削速度、注塑压力等）发生变化。定期进行尺寸测量有助于及时发现生产环节中的质量隐患，保障产品质量的稳定性。

（2）产品设计验证

• 验证设计的可行性：在电子产品设计阶段，需要对设计的尺寸进行验证。通过制作原型并测量其尺寸，可以检查设计是否能够满足产品的功能和性能要求。例如，在设计一款新型的笔记本电脑时，需要测量其内部散热结构的尺寸，以确保有足够的空间容纳散热片和风扇，并且散热通道的尺寸符合散热效率的要求。

• 优化设计方案：根据尺寸测量的结果，可以对设计方案进行优化。如果发现某些零部件的尺寸在实际测量中存在不合理之处，如导致装配困难或影响产品性能，可以及时调整设计。例如，通过测量电子元件在电路板上的布局尺寸，发现元件之间的间距过小，可能会产生电磁干扰，就可以对元件布局进行重新设计，增大间距。

（3）产品装配和兼容性评估

• 确保零部件的装配精度：电子产品通常由多个零部件组成，各零部件之间的***装配对于产品的正常运行至关重要。通过测量零部件的尺寸，可以计算装配间隙、公差配合等参数，确保零部件能够正确装配。例如，在组装电脑硬盘时，需要***测量硬盘和硬盘托架的尺寸，以***硬盘能够顺利插入托架，并且连接接口能够准确对接。

• 评估产品与其他设备的兼容性：对于一些需要与外部设备连接或配合使用的电子产品，尺寸测量有助于评估其兼容性。例如，测量电子设备的接口尺寸（如 USB 接口、HDMI 接口等），确保其符合相应的行业标准，能够与其他标准接口的设备正常连接。

1. 检测方法

（1）量具测量法

• 卡尺测量：卡尺是最常用的量具之一，包括游标卡尺和数显卡尺。游标卡尺通过游标和主尺的配合来读取尺寸，精度一般可达 0.02mm 或 0.05mm；数显卡尺则通过电子传感器将位移量转换为数字显示，精度可达到 0.01mm。使用卡尺可以测量电子产品零部件的长度、宽度、厚度、外径等尺寸。例如，测量手机电池的厚度、耳机插头的直径等。

• 千分尺测量：千分尺也叫螺旋测微器，其测量精度比卡尺更高，通常可达 0.001mm。它主要用于测量较小且精度要求较高的尺寸，如小型电子元件的直径、厚度等。千分尺的工作原理是通过旋转测微螺杆，使砧座和测微螺杆之间的距离发生微小变化，通过刻度盘和固定套管上的刻度来读取尺寸。

• 卷尺测量：对于较大尺寸的电子产品或其包装，如大型电子设备的外壳尺寸、电子显示屏的尺寸等，可以使用卷尺进行测量。卷尺的精度相对较低，一般为 1mm 或 0.5mm，但对于一些对精度要求不高的场合比较适用。

（2）光学测量法

• 工具显微镜测量：工具显微镜是一种用于精密测量微小物体尺寸的光学仪器。它通过光学系统将被测物体放大，然后利用目镜或数字显示屏上的刻度进行尺寸测量。工具显微镜可以测量电子零件的长度、宽度、角度等各种几何参数，并且能够对形状复杂的零件进行***测量。例如，对于芯片的引脚形状和间距、电路板上微小线路的宽度等，可以使用工具显微镜进行测量。

• 投影仪测量：投影仪将被测物体的轮廓投影到屏幕上，通过屏幕上的刻度或与计算机辅助测量软件相结合，可以测量物体的尺寸。这种方法适用于测量平面形状的电子产品零部件，如电子元件的外形尺寸、电路板的尺寸等。投影仪测量的精度根据投影仪的型号和配置有所不同，一般可以达到 0.01mm 左右。

（3）三坐标测量法

• 三坐标测量仪（CMM）测量：CMM 是一种高精度的测量设备，它通过在三个相互垂直的坐标轴（X、Y、Z）上安装测量探头，对被测物体的空间坐标进行测量，从而获取物体的尺寸信息。CMM 可以测量各种复杂形状的电子产品及其零部件的尺寸，包括自由曲面、内腔尺寸等。例如，对于一些具有复杂外形的电子设备外壳或高精度的模具，可以使用 CMM 进行***测量。CMM 的测量精度非常高，一般可达微米级别。

1. 相关标准与规范

（1）***

• *** 1101:2017《Geometrical product specifications (GPS) - Geometrical tolerancing - Tolerances of form, orientation, location and run - out》：该标准规定了几何产品规范（GPS）中的几何公差，包括形状、方向、位置和跳动公差等内容。在电子产品尺寸测量中，这些公差概念用于定义和评估产品及零部件的几何精度，确保产品的尺寸精度符合设计要求和装配性能。

• *** 286 - 1:2010《*** code system for tolerances on linear sizes - Part 1: Basis of tolerances, deviations and fits》：此标准主要涉及线性尺寸公差的 *** 代码系统，包括公差的基本原理、偏差和配合等。它为电子产品尺寸的公差标注和尺寸控制提供了统一的***，有助于在全球范围内实现产品尺寸的一致性和互换性。

（2）***

• GB/T 1800.1 - 2009《产品几何技术规范（GPS） 极限与配合 第 1 部分：公差、偏差和配合的基础》：这个标准与 *** 286 - 1 类似，规定了我国产品几何技术规范中极限与配合的基本概念、公差等级、偏差代号等内容。在电子产品的尺寸测量和质量控制中，用于确定零部件之间的配合精度和尺寸公差范围。

• GB/T 1958 - 2017《产品几何技术规范（GPS） 形状和位置公差 检测规定》：此标准详细说明了形状和位置公差的检测方法和规则，对于电子产品中零部件的形状精度（如平面度、圆柱度等）和位置精度（如平行度、垂直度等）的测量具有重要的指导意义。

（3）行业标准

• 在电子行业的各个细分领域，都有根据产品特点和应用要求制定的行业标准。例如，在印制电路板（PCB）行业，IPC - 2221《Generic Standard on Printed Board Design》标准规定了 PCB 的尺寸公差、线路宽度和间距公差等内容，以确保 PCB 的设计和制造质量。在消费电子产品行业，对于手机、平板电脑等产品的外壳尺寸、接口尺寸等也有相应的行业标准，用于规范产品的生产和装配，***产品的兼容性和用户体验。