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第三方检测机构具备CMA/CNAS资质金属检测，对金属进行x射线无损探伤检测，提供报告
| 产品特性： | x射线 | 检测类型： | 行业检测 |
|---|---|---|---|
| 行业类型： | 材料分析 | 机构名称： | 纳卡检测 |
| 报告形式： | 电子、纸质报告 | 服务周期： | 3~7个工作日（可加急） |
| 证书： | CMA/CNAS | 服务范围： | 全国 |
| 检测依据： | 国标 |
第三方检测机构具备CMA/CNAS资质金属检测，对金属进行x射线无损探伤检测。
实验方法
1.1X射线辐射源的选择
选择上海计量技术研究所从德国引进的MGC一03X射线机作为X射线衰减系数实验测量的辐射源，该设备发生器电压从15kV~320kV可调，电流从1mA~40mA可调。该所对有效能量为20keV、33keV、48keV、60keV、83keV、100keV、121keV和161keV的X射线进行了标定，这个正好是氢弹X射线经过弹壳过滤后弹头内X射线的能量范围。可见，MGC一03X射线机是一台适于研究材料X射线衰减系数的辐射源。
当选定某个X射线有效能量后，在PTW-IQ4和FD-2570B电离室间先不加衰减材料。开X射线机，设此时I04电离室记数为I1，2570B电离室记数为B1，记录数据后停机，按顺序加衰减材料，每种厚度材料放进后，开机测量并记录，停机后，取出衰减金属材料，再换上另一种厚度金属。设加衰减材料时，IQ4电离室记数为I2，2570B电离室记数为B3;并设IQ4电离室记数为I2时，如不加衰减材料，2570B电离室记数为B2，则:
设衰减系数为K，则
Bl:1=B2 :B2=BX2/I1
K=B2/B3=(B1/B3)XI2/I1=(B1/I1)x(/B3)
实验结果
表1为无衰减材料时，不同能量X射线辐射下，两个电离室的记数。表1还给出了B1/11的数值。表2~表4分别是屏蔽厚度为0.2mm、0.5mm和1.0mm，屏蔽面积为200mmX200mm的铝测得的2个电离室的记数;表5~表7分别是屏蔽厚度为0.2mm、0.5mm和1.0mm，屏蔽面积为200mmX200mm的铁测得的2个电离室的记数:表8~表10分别是屏蔽厚度为0.2mm、0.5mm和1.0mm，屏蔽面积为200mmX200mm的铜测得的2个电离室的记数:表11~表13分别是屏蔽厚度为0.2mm、0.5mm和1.0mm，屏蔽面积为200mmX200mm的钮测得的2个电离室的记数。
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